電阻法真空金屬鍍層厚度測(cè)試儀方法及原理GB/T15717

摘要:真空鍍層薄膜在食品及藥品行業(yè)應(yīng)用越來(lái)越廣,鍍層厚度直接影響包材質(zhì)量,本文介紹了真空鍍鋁厚度測(cè)定的方法及標(biāo)準(zhǔn).

關(guān)鍵詞: 真空金屬鍍層,鍍鋁膜,電阻法, GB/T 15717,鍍層測(cè)厚儀

真空蒸鍍金屬薄膜是在真空條件下，將金屬蒸鍍?cè)诒∧せ牡谋砻娑纬蓮?fù)合薄膜的一種新工藝。被鍍金屬材料可以是金、銀、銅、鋅、鉻、鋁等，其中用的zui多的是鋁。在塑料薄膜或紙張表面（單面或雙面）鍍上一層極薄的金屬鋁即成為鍍鋁薄膜，它廣泛地用來(lái)代替鋁箔復(fù)合材料如鋁箔/塑料、鋁箔/紙等使用。隨著科技的發(fā)展真空蒸鍍金屬薄膜的使用越來(lái)越廣泛，主要用于風(fēng)味食品、農(nóng)產(chǎn)品的真空包裝，以及藥品、化妝品、香煙的包裝。另外，鍍鋁薄膜也大量用作印刷中的燙金材料和商標(biāo)標(biāo)簽材料等。

由于真空鍍鋁薄膜上的鍍鋁層非常薄，因此不能用常規(guī)的測(cè)厚儀器檢測(cè)其厚度。由國(guó)家包裝產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心（濟(jì)南）起草的《 GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法--電阻法》于1996年頒布，詳細(xì)介紹了如何檢測(cè)絕緣軟基材表面的真空金屬鍍層厚度的測(cè)試方法。電阻法檢測(cè)鍍鋁層的厚度用表面電阻來(lái)表示，單位是Ω/□，數(shù)值越大說(shuō)明鍍鋁層厚度越薄，一般真空鍍鋁薄膜的表面電阻值為1.0－2.5Ω/□。其試驗(yàn)原理：試樣金屬鍍層為一段金屬導(dǎo)體，依據(jù)歐姆定律測(cè)量規(guī)定長(zhǎng)度和寬度試樣的金屬鍍層電阻值，以方塊電阻表示金屬鍍層的厚度或直接計(jì)算其厚度。標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)真空金屬鍍層厚度測(cè)量裝置也進(jìn)行了明確規(guī)定，要求電阻測(cè)量誤差不大于士1%， 裝置的測(cè)量寬度不小于100m m，兩測(cè)量頭間的距離精度為±0.10mm。

為此濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司研發(fā)了DMT-E金屬鍍層測(cè)厚儀,依據(jù)《GB/T 15717-1995 真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法--電阻法》制造而成，采用高精度接觸式測(cè)量，具備溫度補(bǔ)償功能，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，配備的微型打印機(jī)可快速打印出結(jié)果顯示方塊電阻值、厚度值、均勻度等相關(guān)數(shù)據(jù)。滿足各大企業(yè)、質(zhì)監(jiān)所及相關(guān)檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)絕緣軟基材表面的真空金屬鍍層厚度測(cè)量的需求。為包裝行業(yè)檢測(cè)產(chǎn)品質(zhì)量提供有力，也是目前國(guó)內(nèi)實(shí)驗(yàn)儀器行業(yè)的一大跨越。

儀器試驗(yàn)步驟

1.將金屬鍍層測(cè)量?jī)x與試樣放置在GB2918規(guī)定的23±2℃.，45%-55%RH環(huán)境中放置4h后測(cè)量。

2.每次測(cè)量前用無(wú)水乙醇擦拭儀器的測(cè)量頭。

3.將試樣平放在測(cè)量?jī)x的橡膠板上，使測(cè)量頭與金屬鍍層接觸良好。

4.每次測(cè)量前儀器必須校零。

5.測(cè)量試樣的電阻值。

測(cè)試的實(shí)驗(yàn)結(jié)果自動(dòng)顯示打印金屬鍍層的方塊電阻、金屬鍍層厚度和均勻度。

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