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產(chǎn)品中心密封性測(cè)試儀壓力衰減法密封檢漏儀
product
產(chǎn)品分類
壓力衰減法密封檢漏儀-綜述壓力衰減測(cè)試是一種用于檢測(cè)無(wú)孔、剛性或柔性包裝中泄漏的定量測(cè)量方法。如果加壓氣體的引人導(dǎo)致包裝壁或密封件破裂，則該測(cè)試是破壞性的。如果將氣引人測(cè)試樣品不會(huì)損害包裝屏障，則該測(cè)試是非破壞性的。壓力衰減測(cè)試旨在用測(cè)試樣品的氣體頂空區(qū)域的完整性檢測(cè)。
更新時(shí)間：2025-10-10
產(chǎn)品型號(hào)：
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壓力衰減法密封檢漏儀 Leak-S微泄露密封測(cè)試儀適用于藥品包裝凍干粉針劑瓶、西林瓶、安瓿瓶等針劑注射劑瓶密封性測(cè)試。不同于以往的水檢法，對(duì)試樣造成的破壞。Leak-S采用真空衰減法測(cè)試原理，*無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，滿足ASTM測(cè)試方法和FDA標(biāo)準(zhǔn)。高精度的測(cè)試技術(shù)能夠檢測(cè)到微型小孔的泄漏。
更新時(shí)間：2025-10-10產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：9690531-67813036
